[하비엔뉴스 = 강유식 기자] 산업통상자원부 국가기술표준원은 차세대 디스플레이의 핵심부품으로 평가되는 마이크로 엘이디(초소형 발광 다이오드) 소자의 검사장비 기술이 국제표준으로 추진된다고 22일 밝혔다.
국표원은 오는 24일까지 제주에서 열리는 반도체 소자(IEC TC47) 국제표준 회의에서 이번 표준을 제안한다. 이번 회의에는 한국, 중국, 일본, 독일 4개국에서 약 50명의 반도체 전문가가 참가한다.
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| 마이크로 LED 소자 품질 측정법 개요. [자료=산업통상자원부] |
최근 우리나라는 인공지능용 뉴로모픽 반도체와 시스템 반도체 공정 부품 검사장비 등의 국제표준 개발을 주도하고 있고, 이번 회의에서 디스플레이용 마이크로 LED 소자 품질평가 방법을 신규로 제안한다.
마이크로 LED는 무기발광 소자로 탄소화합물 기반 유기발광 소자인 OLED보다 수명이 길고, 화면에 잔상이 남는 번인현상이 없어 차세대 디스플레이로 각광받고 있다.
제안 표준은 광발광 측정법을 활용한 비접촉식 마이크로 LED 소자 품질 검사 방법이다. 광발광 측정법은 LED 소자가 레이저 등을 통해 빛에너지를 받아 내는 빛을 분석해 검사하는 비접촉식 방법이다.
기존 방식인 전원을 연결하는 접촉식 방법보다 빠르고 불량 여부를 확인할 수 있어 마이크로 LED 소자 품질 검사 비용을 50% 이상 절감할 수 있다.
오광해 표준정책국장은 “마이크로 LED 소자를 활용한 차세대 디스플레이는 현재 본격 상용화를 앞두고 있어 큰 성장이 기대되는 분야다”라며 “우리나라 기업의 장비 기술이 국제표준이 돼 세계의 기준이 될 수 있도록 적극 지원하겠다”라고 말했다.
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